마이크로웍스 코리아(주) 반도체 분석센터 V-I Curve Tracer 장비 도입

 

 

 

마이크로웍스 코리아 반도체 분석센터는 가변 주파수를 이용한 2D, 3D V/I, 매트릭스 V/I 측정을 위한

영국 abi사의 AMS(Advanced Matrix Scanner) 32채널 시스템 3D V-I 테스터를 도입하였습니다.

전자부품이나 PCB 어셈블리를 고유한 테스트 기술을 사용하여 내부 손상 및 불일치를 포함하여

결함의 검출을 위한 전기 신호를 인가하며 시험합니다.

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• V/I signature analysis with frequency range
• V/I signature analysis (static frequency)
• Matrix V/I analysis (multiple reference)
• Dynamic V/T analysis (pulse outputs)
• Automatic live comparison
• Automatic comparison with saved mask
• Interactive test sequences with the ABI software

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V-I 커브를 확인하여 전자부품 불량 유무를 그래픽으로 처리하여 일반 테스터기보다 가독성과 부품 특성 해석이 용이합니다.

부품에 낮은 전압과 전류를 인가하여 부품의 특성곡선을 확인함으로써 순방향 전압, 역방향 전압, 역방향 Leak 전류, Short 등 여러가지 특성들을 수치 및 시각적으로 확인하여 많은 정보를 해석할 수 있습니다.

앞으로 마이크로웍스 코리아㈜ 반도체 분석센터는 더욱 다양한 분석장비 도입을 통해 고객이 요구하는 다양한 분석과 신뢰도를 높이기 위해 더욱 노력하겠습니다.

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감사합니다.

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리포트 예시)

정품 분석 그래프

 

 

의심품 분석 그래프

 

 

*마이크로웍스코리아㈜에서 반도체 재고공유 플랫폼 ESC

재고 공유 플랫폼 ESC 사이트 주소 : http://www.microworks-esc.com/kr/index.php

홍보 동영상 : https://blog.naver.com/mworksk/223139207576

문의 사항 : 02-6112-7328

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